Diffraction des rayons X

La diffraction des rayons X sur poudre est utilisée pour l’identification des phases cristallines ainsi que pour l’évaluation de la cristallinité des échantillons et de la taille des cristallites.

Équipement :
- D8 de la société Bruker, géométrie Bragg-Brentano théta-théta
- 1 détecteur linéaire Lynxeye
- 1 passeur d’échantillon neuf positions permettant d’effectuer des mesures aux angles conventionnels (2 tétha > 4°) mais également aux petits angles (0.5°< théta < 4°) pour la caractérisation des matériaux mésoporeux organisés de type SBA-15 et MCM-41. Contacter l'IMPC

Le laboratoire dispose d’un appareil de diffraction de rayons X sur poudres à température ambiante, destinés à l’identification des phases cristallines, à l’évaluation de la cristallinité des échantillons et au calcul des paramètres de la maille cristalline.

Il est utilisé entre autre pour la caractérisation des matériaux mésoporeux ordonnés, constitués de silice amorphe mais présentant un réseau poreux régulier, par exemple de symétrie hexagonale P6m (cas des matériaux MCM-41 et SBA-15).

Ces matériaux peuvent donc diffracter les rayons X. La périodicité de ces réseaux étant de l'ordre de quelques nm (d100 ~ 4 nm pour les MCM-41 et 9 nm pour les SBA-15), le diffractogramme est "décalé" vers les petits angles par rapport à un matériau cristallin traditionnel. Il faut donc un équipement adapté à de telles mesures (c'est-à-dire capable d'observer le faisceau réfléchi au voisinage du faisceau incident, sans être "ébloui" par ce dernier).